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電學試驗儀器

EMC電波暗室及屏蔽系統

別稱:EMC電波暗室屏蔽系統

說明:半電波暗室除地面為金屬反射面外,其余面均貼有吸波材料,可模擬開闊場地的測試 條件。半電波暗室相對于開闊場而言,它不受氣候條件的限制和背景噪聲的影響,作為電 磁干擾的替換測試場地得到廣泛應用。

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技術參數

一、 設備功用

電波暗室除地面為金屬反射面外,其余面均貼有吸波材料,可模擬開闊場地的測試 條件。半電波暗室相對于開闊場而言,它不受氣候條件的限制和背景噪聲的影響,作為電 磁干擾的替換測試場地得到廣泛應用。

        我們為為客戶提供半電波暗室設計、建造、場地驗收、設備集成、安裝調試、技術服 務等一系列完善服務。竣工后的暗室工作頻率范圍為 9kHz~18GHz。 本次電磁兼容實驗室建設項目是針對電子產品的電磁兼容測試要求而建設的,包括一個 標準 3 米法半電波暗室,一個屏蔽控制室,一個功放室及配套系統。電波暗室及測試系統 建設完成以后,可達到認證實驗室的要求。并預留擴展空間,后續只需增加設備和配件實現 家電、電動工具、低壓電器等行業產品的電磁兼容性測試要求,滿足研發、第三方認證的要 求。本項目為交鑰匙工程項目,供應方負責全部工程項目的設計、制造、安裝、調試,保證 達到各項技術指標性能和相關標準要求。



二、設計依據

2.1、主要依據的標準:

lANSI C63.4 《American National Standard for Methods of Measurement of Radio-Noise Emissions from Low-Voltage Electrical and Electronic Equipment in the Range of 9kHz-40GHz》

lCISPR 16-1-4:2012 《 Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods-Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus-Antennas and test sites for radiated disturbance measurements》

EN50147 《高性能屏蔽室屏蔽效能的測量方法》

 GB/T 12190 《電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法》

IEC/EN 61000-4-3《電磁兼容性試驗和測量技術射頻電磁場輻射抗擾度試驗》

中華人民共和國國家**標準《電磁兼容電測試實驗室認可要求》

CISPR 22/GB 9254-2008《信息技術設備的無線電騷擾限值和測量方法》

發泡型吸波材料的安全特性依據GB2406 & NRL report 8093執行

GB/T 6113.1《無線電騷擾和抗擾度測量設備規范》

CISPR 11(GB 4824)《工業、科學和醫療射頻設備射頻干擾特性的測量方法和極限》

CISPR 12(GB 14023)《車輛、機動船和由火花點火發動機驅動的裝置的無線電干擾 特性的測量方法及允許值》

 CISPR 13(GB 13837)《聲音和電視接收機的射頻干擾特性的測量方法和極限值》

 CISPR 14(EN55014、GB 4343)《家用和類似用途電動、電熱器具、電動工具以及 類似電器無線電干擾特性測量方法和允許值》

CISPR 14.1 (GB 4343.1)《家用電器和便攜式工具射頻干擾特性測量方法和極限值》

CISPR 15(GB17743)《電氣照明和類似設備的無線電騷擾特性的限值和測量方法》

CISPR 16 (GB/T 6113)《射頻干擾測量裝置和測量方法的規范》

CISPR16-1-4 《無線電干擾和抗擾度測試裝置和方法規范 第1-4部分:無線電干擾和 抗擾度測試裝置 輔助設備 輻射干擾》

CISPR 23 《工、科、醫設備騷擾限值的確定》

 CISPR 24 《信息技術設備的抗擾度》  

 

 

三、性能指標:

1.屏蔽效能:

暗室的屏蔽體、濾波器、波導窗等組件安裝完畢后,按照標準 EN50147, GB/T12190-新標準的要求進行測試在 9kHz~18GHz 頻率范圍內,暗室和所有屏蔽 室的屏蔽效能達到下列指標:

依據標準 GB/T 12190-2006 電磁屏蔽室屏蔽效能的測量方法

場 源

頻率(MHz)

屏蔽效能(dB)

磁場

0.01

≥80

磁場/電場

0.1

≥90

電場

1

≥110

電場

100

≥110

電場

450

≥110

電場

950

≥110

電場

3000

≥100

電場

10000

≥100

電場

18000

≥100

2.歸一化場地衰減(NSA)

符合 CISPR16、ANSI C63.4 等標準的新版本對場衰減的要求。按規定在測試距離為 3 米,靜區直徑為 2 米,高 2 米的圓柱體內所有位置從 30MHz 至 1GHz 進行歸一化場衰減 測試,按照 3 米法測量的歸一化衰減(NSA)值與理論值偏差優于±4.0 dB(天線偏軸不超過 15°)。

標準要求發射天線在五個地面位置,,在垂直和水平兩種極化下進行共20組測量。

 

 

歸一化場地衰減(NSA) 測試標準:依據 GB/T   6113.104( CISPR 16-1-4 )進行測試

3米測試距離

靜區:2.0 米(直徑)×2.0 米(高),中心位于暗室中軸線

NSA:優于±4.0dB

極化方式

水平和垂直極化

頻率范圍

從 30MHz 至 1GHz

測試方法

測試區域為圓柱體,高度參照地面的高度 發射天線水平高度為 1 米、2 米、2.5 米; 發射天線垂直高度為 1 米、1.5 米、2m;   接收天線在 1~4 米高度掃描; 發射天線位于測試區域的 5 點:前、后、左、右、中。


3.背景噪聲

符合 CISPR22 Claas B(GB/T 9254)的規定。在 30MHz-6GHz 的頻率范圍內,無 EUT 的情況下,測得的環境電平值,至少低于規定的 B 級限值 10dB。

4.  場均勻性(FU)

按照 IEC61000-4-3步驟和規定,符合 EN61000-4-3和 GB/T17626.3的等新標準的要求 場均勻度測試,標準場為轉臺之上0.8米-2.3米范圍內1.5米 x1.5米的垂直平面,按照3米測試距 離要求16個測試點的75%即12點場均勻性在0-6dB 之間。測試要求如下:

 

場均勻性(FU) 測試標準:依據IEC61000-4-3 (EN61000-4-3)進行測試

測試距離

3米

極化方式

水平和垂直

發射天線

雙錐、對數周期天線安放在半電波暗室長軸向

接收天線

寬帶、各向同性探頭,水平極化:16 個位置,垂直極化:16 個位置

測試區域

地面(轉臺位置)之上 0.8m-2.3m范圍內 1.5m×1.5m的垂直平面, 中心高度:1.55m

地面吸波材料

FU測試用吸波材料

場均運性限制

16 個測試點中至少有 12 個點間較大場強偏差在 0~+6.0dB內


FU 性能測試天線及場強探頭位置示意圖

 

5.場地電壓駐波比(site VSWR)

半電波暗室的場地電壓駐波比(sVSWR)按照標準 CISPR 16-1-4新版本的要求進行測 試。測試頻率范圍1GHz~18GHz,測試距離3m,靜區為直徑2m、高2m 的圓柱體。測量得到 的3米法半電波暗室的場地電壓駐波比(sVSWR)≤6.0dB。測試要求如下:

場地電壓駐波比(site VSWR) 測試標準:依據CISPR 16-1-4 進行測試

測試距離

3米

發射天線高度

1 米,2 米,全向天線

接收天線高度

1 米,2 米

測試要求:發射天線高度

水平極化:1m 和 2m; 垂直極化:1m 和 2m

測試位置

發射天線位 1m 時測試區域的 4 點:中、前、左和右 于 2m 時,只測試前點

極化方式

水平和垂直

測試區域

與轉臺同圓心,直徑 2.0 米高 2.0 米的圓柱體

測試結果

SVSWR≤6.0dB


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